INTERNATIONAL PATENT: ORGANO CORPORATION, オルガノ株式会社, NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY, 独立行政法人国立高等専門学校機構 FILES APPLICATION FOR "IMPURITY DETECTION METHOD, TEST PLATE AND DETECTION DEVICE"

GENEVA, Nov. 3 -- ORGANO CORPORATION (2-8, Shinsuna 1-chome, Koto-ku, Tokyo1368631), オルガノ株式会社 (東京都江東区新砂１丁目２番８号), NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (701-2, Higashiasakawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo1930834), 独立行政法人国立高等専門学校機構 (東京都八王子市東浅川町７０１番２) filed a patent application (PCT/JP2025/008977) for "IMPURITY DETECTION METHOD, TEST PLATE, AND DETECTION DEVICE" on Mar 11, ...