INTERNATIONAL PATENT: KONICA MINOLTA, INC., コニカミノルタ株式会社, EINES SYSTEMS, S.L.U., エイネス・システムズ・ソシエダッド・リミターダ・ウニペルソナル FILES APPLICATION FOR "DEFECT INSPECTION DEVICE"

GENEVA, Dec. 16 -- KONICA MINOLTA, INC. (2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo1007015), コニカミノルタ株式会社 (東京都千代田区丸の内二丁目７番２号), EINES SYSTEMS, S.L.U. (Avda. Henry Ford, 19, 46440 Almussafes, Valencia), エイネス・システムズ・ソシエダッド・リミターダ・ウニペルソナル (バレンシア，　４６４４０　ӝ...