INTERNATIONAL PATENT: ALTEX CORPORATION, 株式会社アルテックス, TOKYO UNIVERSITY OF SCIENCE FOUNDATION, 学校法人東京理科大学, KAKE EDUCATIONAL INSTITUTION OKAYAMA UNIVERSITY OF SCIENCE, 学校法人加計学園 岡山理科大学 FILES APPLICATION FOR "THERMAL CONDUCTANCE MEASUREMENT METHOD AND THERMAL CONDUCTANCE MEASUREMENT SYSTEM"

GENEVA, March 3 -- ALTEX CORPORATION (2-10-1 Nakaizumi, Komae-shi, Tokyo2010012), 株式会社アルテックス (東京都狛江市中和泉２－１０－１), TOKYO UNIVERSITY OF SCIENCE FOUNDATION (1-3 Kagurazaka, Shinjuku-ku, Tokyo1628601), 学校法人東京理科大学 (東京都新宿区神楽坂一丁目３番地), KAKE EDUCATIONAL INSTITUTION OKAYAMA UNIVERSITY OF SCIENCE (1-1 Ridaicho, Kita-ku, Okayama-shi, Okayama7000005), 学校法人加計学Þ...